Flying Probe Testsysten

Seica Pilot V8 Auto-SW-001

En Flying Probe Tester Seica Pilot V8 Next Series med inline-hanteringsmodul vänster för vertikal vridning av mönsterkortet och inline-hanteringsmodul höger för horisontell vridning och rotation av mönsterkortet finns tillgänglig. Flying Probe Testsystem Seica Pilot V8 Next Series: Kortspänningssystem: manuell, dubbelverkande, aktivt testområde manuellt: 538x610mm, aktivt testområde: 518x610mm, mönsterkortsdimensioner: 540x610mm, minsta mönsterkortsstorlek: 20x20mm, korttjocklek: 0,3 till 5mm, maximal komponenthöjd: 37mm, kortinmatning: vertikal, UUT-kantavstånd manuell/automatisk: 2/6mm, längd: 1750mm, bredd: 1030mm, höjd: 1995mm, vikt: 1,4t. Testverktyg/-tekniker: FNODE signaturanalyser på testobjektets nät, standard analog och digital In Circuit Test, vektorfria tester, JSCAN och OPENFIX för att testa IC:er för avbrott och kortslutning, PWMON nätanalys med påslagen spänning på modulen, genomgångstester för att detektera öppna förbindelser på moderkortet, visuella tester för att identifiera komponentnärvaro, frånvaro och rotation, högupplöst färgkamera, valbara funktionstester och Boundary Scan-testfunktioner, valbara On Board-programmeringsverktyg för digitala komponenter, komplett dokumentation ingår. Inspektion på plats är möjlig.
Lhjdjy Sv S Hjpfx Ai Uog

Annonsen har översatts automatiskt. Översättningsfel kan förekomma.